加速电压：200 kV；

HRTEM线分辨率：0.10 nm；

HRSTEM分辨率：0.14 nm；

样品倾斜角度X/Y：±30°；

X-FEG的亮度：1.8×109 A/cm2sard（200 kV下）；

Super-X EDS系统；

能量分辨率：≤136 eV，适用于Mn-Kα和10 kcps（输出）。

材料形貌、电子衍射、高分辨图像及成分分析；

材料原子结构分析（重、轻原子）；

三维结构分析；

磁畴结构分析； 

多相多场（力、热、电、气、液）原位实验。